|
Книга ID: 967258
Дефекты микросхем и их диагностика Учеб. пособие по курсу "Технология приборостроения" Я. В. Малков, В. М. Карнеев
Тематика, ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные - Техническая диагностика.
Сведения об издании:
М. МЛТИ 1982 52 с. 20 см
Язык:
rus
|
|