|
Книга ID: 933988
Надежность микроэлектронных схем и элементов Сб. науч. тр. АН УССР, Ин-т полупроводников; [Отв. ред. М. М. Некрасов, В. Г. Литовченко]
Тематика, ключевые слова:
Микроэлектронные схемы - Надежность - Сборники.
Сведения об издании:
Киев Наук. думка 1982 207 с. 20 см.
Язык:
rus
|
|