|
Книга ID: 926750
Материалы II всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Рязань, 17-19 июня 1981 г.
Тематика, ключевые слова:
Микроэлектронные схемы - Надежность - Тезисы докладов.
Сведения об издании:
Рязань РРТИ 1982 159 с. 20 см.
Язык:
rus
|
|