|
Книга ID: 579746
Сканирующая туннельная микроскопия. Аппаратура, принцип работы, применение : Учеб. пособие по курсу "Соврем. методы исслед. структуры материалов" С. Д. Карпухин, Ю. А. Быков, М. А. Щекотов; Под ред. Ю. А. Быкова; Моск. гос. техн. ун-т им. Н. Э Баумана
Тематика, ключевые слова:
Физика -- Электричество и магнетизм -- Электронная оптика -- Электронная микроскопия -- Учебник для высшей школы.
сканирующая туннельная микроскопия.
Сведения об издании:
М. Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана 1999
24 с. 21 см
Язык:
rus
|
|
