Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 МГУ им. М. В. Ломоносова. Борщаговский, Евгений Григорьевич. Москва 1991. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Борщаговский, Евгений Григорьевич
	Книга ID: 55491 Метод эллипсометрии в исследовании параметров тонких пленок и процессов, протекающих в молекулярных системах, адсорбированных на поверхности твердых тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 МГУ им. М. В. Ломоносова Тематика, ключевые слова: Физика полупроводников и диэлектриков. Сведения об издании: Москва 1991 16 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]