|
Книга ID: 530378
Разрушение транспортным током слабых связей в композитах ВТСП + CuO / М. И. Петров, Д. А. Балаев, К. А. Шайхутдинов
Тематика, ключевые слова:
Радиоэлектронная аппаратура -- Контакты -- Материалы -- Электрические свойства -- Экспериментальные методы исследования. джозефсоновские структуры.
Сведения об издании:
Красноярск 1998 23 с. 20 см
Язык:
rus
|
|