Математико-статистические методы для повышения эффективности контроля и управления качеством производства интегральных микросхем : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01; 05.27.05 Кишин. политехн. ин-т им. С. Лазо. Шестакова, Татьяна Владленовна. Кишинев 1990. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Шестакова, Татьяна Владленовна
	Книга ID: 49624 Математико-статистические методы для повышения эффективности контроля и управления качеством производства интегральных микросхем : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01; 05.27.05 Кишин. политехн. ин-т им. С. Лазо Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Кишинев 1990 18 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]