Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина. Овчаренко, Евгений Николаевич. Москва 1993. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Овчаренко, Евгений Николаевич
	Книга ID: 34471 Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Москва 1993 24 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]