|
Книга ID: 31493
Изменение профилей концентраций атомов в тонкопленочных структурах Me-Si при тепловом и радиационном воздействиях : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 Уральский техн. ун-т
Тематика, ключевые слова:
Физика твердого тела.
Сведения об издании:
Екатеринбург 1996 27 с.
Язык:
rus
|
|