Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 Всерос. электротехнич. ин-т. Айрапетян, Вачаган Каранович. Москва 1994. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Айрапетян, Вачаган Каранович
	Книга ID: 30394 Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 Всерос. электротехнич. ин-т Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Москва 1994 28 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]