|
Книга ID: 29856
Интерактивный метод поиска дефектов в микропроцессорных модулях при использовании проверяющих тестов : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.13 Ленингр. ин-т авиац. приборостроения
Тематика, ключевые слова:
Вычислительные машины, комплексы, системы и сети.
Сведения об издании:
Ленинград 1988 20 с.
Язык:
rus
|
|