Исследование количественного состава и свойств ионно-имплантированных слоев Si, GaAs и сплава Pd-Ba методами вторичной электронной спектроскопии : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 Моск. физ.-техн. наук. Ташатов, Алланазар Каршиевич. Москва 1990. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Ташатов, Алланазар Каршиевич
	Книга ID: 29120 Исследование количественного состава и свойств ионно-имплантированных слоев Si, GaAs и сплава Pd-Ba методами вторичной электронной спектроскопии : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 Моск. физ.-техн. наук Тематика, ключевые слова: Физическая электроника. Сведения об издании: Москва 1990 18 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]