|
Книга ID: 2603923
Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов : сканирующая зондовая микроскопия : учеб. пособие С. Е. Александров, А. Б. Спешилова; Федеральное агентство по образованию, Санкт-Петербургский гос. политехнический ун-т
Тематика, ключевые слова:
Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия -- Учебник для высшей школы.
Техника и технические науки (в целом) -- Материалы. Материаловедение -- Материалы по роду структуры -- Наноматериалы -- Исследование -- Физические методы -- Оптические методы -- Микроскопические методы -- Методы электронной микроскопии -- Учебник для высшей школы.
Сведения об издании:
Санкт-Петербург Изд-во Политехнического ун-та 2005
83 с. 21 см
Язык:
rus
|
|
