|
Книга ID: 2518032
Многофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения : Туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля : автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.11.16, 05.27.01 Сарат. гос. техн. ун-т
Тематика, ключевые слова:
Радиоэлектронная аппаратура -- Микрорадиоэлектронная аппаратура -- Твердые схемы -- Исследование -- Методы электронной микроскопии.
Физико-математические науки -- Физика -- Электричество и магнетизм -- Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях -- Электронная и ионная оптика -- Электронные и ионные микроскопы.
Сведения об издании:
Саратов 2004
35 с.
Язык:
rus
|
|
