Методы исследования материалов и структур электроники: рентген. дифракц. микроскопия: курс лекций В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. Бублик, Владимир Тимофеевич. Москва Учеба 2006 М. Тип. изд-ва "Учеба" МИСиС. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Бублик, Владимир Тимофеевич
	Книга ID: 2510362 Методы исследования материалов и структур электроники: рентген. дифракц. микроскопия: курс лекций В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский Тематика, ключевые слова: Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Рентгеноструктурный анализ -- Лекции для высшей школы. получение изображений кристаллов. Сведения об издании: Москва Учеба 2006 М. Тип. изд-ва "Учеба" МИСиС 92 с. 21 см Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]