Диагностика структур на основе InGaAsP/InP методом комбинационного рассеяния света : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 Рос. АН Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Якименко, Игорь Юрьевич. Санкт-Петербург 1994. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Якименко, Игорь Юрьевич
	Книга ID: 22045 Диагностика структур на основе InGaAsP/InP методом комбинационного рассеяния света : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 Рос. АН Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе Тематика, ключевые слова: Физика полупроводников и диэлектриков. Сведения об издании: Санкт-Петербург 1994 17 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: Написать в Telegram ИЛИ Написать в WhatsApp ИЛИ Написать на email [email protected]