Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники : диссертация ... доктора технических наук в форме науч. докл. : 01.04.10. Резвый, Ростислав Ростиславович. Москва 1998. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Резвый, Ростислав Ростиславович
	Книга ID: 218441 Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники : диссертация ... доктора технических наук в форме науч. докл. : 01.04.10 Тематика, ключевые слова: Физика полупроводников и диэлектриков. Сведения об издании: Москва 1998 65 с. 20х15 см Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]