|
Книга ID: 2137596
Исследование метрологических характеристик тонкопленочных микросхем и разработка методов и средств их функциональной подгонки и контроля : [Монография] Г. С. Власов
Тематика, ключевые слова:
Радиоэлектроника -- Микрорадиоэлектронная аппаратура -- Пленочные схемы и приборы -- Технология производства -- Нанесение покрытий.
Сведения об издании:
Пенза Изд-во Пензен. гос. ун-та 2003-____ 20 см 20 см
Язык:
rus
|
|