|
Книга ID: 2090932
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : Учеб. пособие по курсу "Соврем. методы исслед. структуры материалов" С.Д. Карпухин, Ю.А. Быков ; По ред. Ю.А. Быкова ; Моск. гос. техн. ун-т им. Н.Э. Баумана
Тематика, ключевые слова:
Технология металлов -- Металловедение -- Состояния и структура металлов и сплавов -- Металлографические методы исследования структуры и состояния в металлах и сплавах -- Металлографические методы -- Световая микроскопия -- Учебник для высшей школы.
Report Designer.
Сведения об издании:
М. Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана 2003
48, [1] с. 20 см
Язык:
rus
|
|
