Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах Отв. ред. А. В. Раков. . М. Наука 1995. купить

Помощь Корзина ( 0 )

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

Естественные науки / Физико-математические науки / Механика твердых деформируемых тел /

Естественные науки / Физико-математические науки /

Книга ID: 1955831

Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах Отв. ред. А. В. Раков

Тематика, ключевые слова:

Линейные измерения.

Сведения об издании:

М. Наука 1995
162,[5] с. 24 см

Язык:

rus

Цена не определена.
Для уточнения:
WhatsApp
или
[email protected]

о проекте|каталог|поиск|помощь

copyright (c) 2010-2024 any-book.ru