Методологические основы контроля линейных размеров субмикронного диапазона методами оптической и растровой электронной микроскопии в технологии изготовления СВЧ-транзисторов : диссертация ... доктора технических наук : 05.27.01. Куликов, А.В.. Москва 1993. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Куликов, А.В.
	Книга ID: 191033 Методологические основы контроля линейных размеров субмикронного диапазона методами оптической и растровой электронной микроскопии в технологии изготовления СВЧ-транзисторов : диссертация ... доктора технических наук : 05.27.01 Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Москва 1993 310 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]