Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18 Рос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова. Орехов, Сергей Владимирович. Москва 1992. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Орехов, Сергей Владимирович
	Книга ID: 18631 Дифрактометрия высокой точности при электронографическом исследовании структуры аморфных тел : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18 Рос. АН Ин-т кристал. им. А. В. Шубникова Тематика, ключевые слова: Кристаллография, физика кристаллов. Сведения об издании: Москва 1992 21 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]