|
Книга ID: 1700517
Радиационные эффекты в интегральных микросхемах и методы испытаний изделий полупроводниковой электроники на радиационную стойкость : Учеб. пособие / Э. Н. Вологдин, А. П. Лысенко ; М-во образования Рос. Федерации. Моск. гос. ин-т электроники и математики (Техн. ун-т)
Тематика, ключевые слова:
Радиоэлектроника -- Радиотехника -- Радиоэлектронная аппаратура -- Микроэлектроника -- Интегральные микросхемы -- Эксплуатация в особых условиях -- Методы исследования -- Учебник для высшей школы.
Радиоэлектроника -- Электроника. Электронные приборы -- Полупроводниковые приборы -- Испытания -- Применение ионизирующих излучений -- Учебник для высшей школы.
Сведения об издании:
М. Моск. гос. ин-т электроники и математики 2002 ООП Моск. гос. ин-та электроники и математики
46 с. 21 см.
Язык:
rus
|
|
