Вторично-ионная спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01. Симакин, Сергей Геннадьевич. Ярославль 1995. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Симакин, Сергей Геннадьевич
	Книга ID: 164575 Вторично-ионная спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01 Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Ярославль 1995 151 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]