Экспрессный метод ПЭМ-изучения структурных изменений в полупроводниках вдоль пути движения заряженных частиц В. Ф. Реутов, А. С. Сохацкий. Реутов, Валерий Филиппович. Дубна ОИЯИ 1997. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Реутов, Валерий Филиппович
	Книга ID: 1623796 Экспрессный метод ПЭМ-изучения структурных изменений в полупроводниках вдоль пути движения заряженных частиц В. Ф. Реутов, А. С. Сохацкий Тематика, ключевые слова: Кремний - Дефекты радиационные - Электронно-микроскопические исследования. Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые - Облучение. Сведения об издании: Дубна ОИЯИ 1997 10 с. 22 см Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: Написать в Telegram ИЛИ Написать в WhatsApp ИЛИ Написать на email [email protected]