|
Книга ID: 1620048
Электронно-микроскопическое исследование углеродистой стали, насыщенной гелием и подвергнутой послерадиационной фазовой перекристаллизации В. Ф. Реутов, В. К. Семина, А. С. Сохацкий
Тематика, ключевые слова:
Сталь углеродистая - Легирование ионное. Сталь углеродистая - Дефекты радиационные - - Электронно-микроскопические исследования.
Сведения об издании:
Дубна ОИЯИ 1997 7 с. 22 см
Язык:
rus
|
|