Анализ влияния тока пучка отрицательных ионов на его диагностику по электронам обдирки А. С. Артемов. Артемов, А. С.. Дубна ОИЯИ 1997. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Артемов, А. С.
	Книга ID: 1610382 Анализ влияния тока пучка отрицательных ионов на его диагностику по электронам обдирки А. С. Артемов Тематика, ключевые слова: Ионы отрицательные - Пучки - Диагностика. Сведения об издании: Дубна ОИЯИ 1997 6 с. 21 см Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]