Диагностика крупномасштабных примесных скоплений в полупроводниках и анализ таких скоплений в кремнии, выращенном методом Чохральского : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10. Мурин, Дмитрий Игоревич. Москва 1996. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Мурин, Дмитрий Игоревич
	Книга ID: 158181 Диагностика крупномасштабных примесных скоплений в полупроводниках и анализ таких скоплений в кремнии, выращенном методом Чохральского : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 Тематика, ключевые слова: Физика полупроводников и диэлектриков. полупроводники. кремний. Сведения об издании: Москва 1996 129 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: Написать в Telegram ИЛИ Написать в WhatsApp ИЛИ Написать на email [email protected]