Основы теории надежности и параметрической чувствительности РЭС Учеб. пособие Ю. Н. Кофанов, В. В. Жаднов; Моск. ин-т электрон. машиностроения. Кофанов, Юрий Николаевич. М. МИЭМ 1990. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Кофанов, Юрий Николаевич
	Книга ID: 1414847 Основы теории надежности и параметрической чувствительности РЭС Учеб. пособие Ю. Н. Кофанов, В. В. Жаднов; Моск. ин-т электрон. машиностроения Тематика, ключевые слова: Радиоэлектронная аппаратура - Надежность. Сведения об издании: М. МИЭМ 1990 78 с. 20 см Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]