|
Книга ID: 1389802
Ускоренные испытания элементов и систем Г. Д. Карташов
Тематика, ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность - - Статистическая теория (сб. 6). Промышленная продукция - Надежность - Сборники.
Сведения об издании:
М. Знание 1990 91 с.
Язык:
rus
|
|