|
Книга ID: 1356
Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т
Тематика, ключевые слова:
Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника.
Сведения об издании:
Санкт-Петербург 1994 16 с.
Язык:
rus
|
|