|
Книга ID: 1345271
Количественные теневые методы при контроле оптических систем : Учеб. пособие В. К. Кирилловский; Межотрасл. ин-т повышения квалификации кадров по новым направлениям развития техники и технологии (МИПК ЛИТМО)
Тематика, ключевые слова:
Оптические системы - Технический контроль - Оптические методы. Теневые измерения.
Сведения об издании:
Л. МИПК ЛИТМО 1989 83 с. 20 см
Язык:
rus
|
|