|
Книга ID: 1197757
Диагностический и отладочный стенд на основе микро-ЭВМ И. А. Леонов, Ю. В. Скачков
Тематика, ключевые слова:
Вычислительные машины на интегральных микросхемах - Программы тестирующие. Информационные системы измерительные - Отладка.
Сведения об издании:
М. ЦНИИ информ. и техн.-экон. исслед. по атом. науке и технике 1987 7,[1] с. 20 см
Язык:
rus
|
|