|
Книга ID: 1153277
Опыт эксплуатации технологических источников питания и оценка их надежности Н. Л. Олиферчук, Н. Л. Панасюк, А. И. Неклюдов и др.
Тематика, ключевые слова:
Стабилизаторы полупроводниковые - Надежность.
Сведения об издании:
М. ЦНИИ информ. и техн.-экон. исслед. по атом. науке и технике 1986 8 с. 21 см
Язык:
rus
|
|