Регрессионные связи параметров слоя F1 и критической частоты слоя F2 Виницкий А. В., Гришкевич Л. В., Дацко Е. П. и др.. . Иркутск СибИЗМИР 1985. купить

Помощь Корзина ( 0 )

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

Техника / Радиоэлектроника / Автоматика и телемеханика /

Техника / Радиоэлектроника /

Техника / Техника и технические науки в целом /

Книга ID: 1133794

Регрессионные связи параметров слоя F1 и критической частоты слоя F2 Виницкий А. В., Гришкевич Л. В., Дацко Е. П. и др.

Тематика, ключевые слова:

Радиоволны короткие - Распространение в ионосфере - Статистические методы изучения.
Регрессионный анализ.

Сведения об издании:

Иркутск СибИЗМИР 1985
10 с. 20 см

Язык:

rus

Цена не определена.
Для уточнения:
Написать в Telegram

ИЛИ

Написать в WhatsApp

ИЛИ

Написать на email
[email protected]

о проекте|каталог|поиск|помощь

copyright (c) 2010-2024 any-book.ru