|
Книга ID: 1034660
Анализ рефлектометрического метода калибровки трактов измерительной системы БИС М. В. Пешков
Тематика, ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные большие - Параметры - Измерение. Информационные системы измерительные - Тракты - Калибровка.
Сведения об издании:
М. ИТМИВТ 1983 22 с. 21 см
Язык:
rus
|
|