|
Книга ID: 1032224
Комплекс аппаратуры контроля и технологических испытаний в производстве полупроводниковой памяти Г. В. Кристовский, В. Д. Шашко
Тематика, ключевые слова:
Запоминающие устройства на интегральных микросхемах - Испытание.
Сведения об издании:
М. ИТМИВТ 1983 17 с. 22 см
Язык:
rus
|
|