Вторично-ионная масс-спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01 Рос. академия наук. Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов. Симакин, Сергей Геннадьевич. Черноголовка 1995. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Симакин, Сергей Геннадьевич
	Книга ID: 10080 Вторично-ионная масс-спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01 Рос. академия наук. Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Черноголовка 1995 23 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]