Вторично-ионная масс-спектрометрия тонких поверхностных слоев и межфазных границ раздела металлов, полупроводников, высокотемпературных сверхпроводников и органических веществ : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур. Климовский, Юрий Абрамович. Харьков 1988. купить

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Климовский, Юрий Абрамович
	Книга ID: 10077 Вторично-ионная масс-спектрометрия тонких поверхностных слоев и межфазных границ раздела металлов, полупроводников, высокотемпературных сверхпроводников и органических веществ : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 АН УССР. Физ.-техн. ин-т низких температур Тематика, ключевые слова: Физическая электроника. Сведения об издании: Харьков 1988 15 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]