Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. Вълков, Ивелин Цветанов. Санкт-Петербург 1994. Заказать электронную копию

Регистрация

Вход

Изготовление электронных копий любых изданий

	Автор: Вълков, Ивелин Цветанов
	Книга ID: 1356 Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т Тематика, ключевые слова: Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника. Сведения об издании: Санкт-Петербург 1994 16 с. Язык: rus	Цена не определена. Для уточнения: WhatsApp или [email protected]